GE-XP谷物品質(zhì)圖像分析系統(tǒng)應(yīng)用圖像自動(dòng)分析系統(tǒng)測(cè)定谷物雜質(zhì)和不完善粒的檢測(cè)設(shè)備。適用于各類谷物的檢測(cè)。該系統(tǒng)集計(jì)算機(jī)技術(shù)與圖像處理技術(shù)于一體,通過(guò)CCD攝像機(jī)、進(jìn)料機(jī)構(gòu)、驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)和出料機(jī)構(gòu)以及圖像自動(dòng)采集系統(tǒng),經(jīng)圖像處理和BP神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的分類算法,達(dá)到對(duì)于標(biāo)準(zhǔn)麥、破損麥和異種糧霉變糧的自動(dòng)識(shí)別。
主要性能指標(biāo):
1. 稻谷:未熟粒、蟲蝕粒、病斑粒、生芽粒、霉變粒。識(shí)別準(zhǔn)確率≥95%
2. 小麥:破損粒、蟲蝕粒、病斑粒、生芽粒、霉變粒。識(shí)別準(zhǔn)確率≥95%
3. 玉米:破損粒、蟲蝕粒、病斑粒、生芽粒、霉變粒、熱損傷粒。識(shí)別準(zhǔn)確率≥95%
4. 大米:堊白粒率、粒型、黃粒米、堊白度。識(shí)別準(zhǔn)確率≥95%